清晰明亮
徠卡品牌意味著高標準的光學性能。HC（和諧系統）光學系統的開發將光學顯微鏡標準提到了一個新的高度。寬廣的物鏡選擇范圍保證了材料顯微鏡驚人的成像質量。高性價比的HI Plan EPI新物鏡系列將明亮高反差與**分辨率和優化的圖像融合在了一起。

操作2500M帶給您的視覺享受
您的工作同時需要長工作距離和高分辨率。N PLAN（平場消色差）和Plan Fluotar（平場消色差）物鏡系列會給您帶來意想不到的效果。它們通過所有對比方法展現持久的高清晰圖像。圖像區域的尺寸為20到25mm，寬闊的圖像區域減少了掃描標本和確定目標所需的時間。使您輕松看到想要看到的目標。

●新型高反差物鏡系列HI Plan EPI
-放大倍率：5倍、10倍和20倍
-視野：20mm
-平展的圖像區域
-寬大的工作距離
 
長工作距離和高分辨率在同一時間下獲得


N PLAN 平場消色差物鏡系列

穩定可靠
帶有CDA的彩色編碼的有效光闌調節功能使Leica DM2500 M成為*便捷的手動顯微鏡，它可以大大加速工作過程。使用手動顯微鏡的動作效率達到新的高度。

集中精力工作，不用操心
Leica DM2500 M是您的研究更加便捷，這在用類產品中是****的。CDA使得確定合適的光學參數簡便易行，內置式調焦限位功能能同時保護標本和物鏡。穩定的齊焦功能使您可以全神貫注于您的應用。這些功能使新型Leica DM2500 M成為同類產品中*先進*可靠的顯微鏡。

功能**
滿足各種顯微鏡應用需**我們開發新型Leica DM2500 M之原因所在。Leica DM2500 M可以是一臺滿足日常工作的常規顯微鏡，也可以是一臺功能**的研究型顯微鏡，Leica DM2500 M穩定、耐用、符合人體工程學，*重要的是它操作簡便，幫助您節省時間。

●新性能：彩色編碼的光圈輔助（CDA）
-結果可靠
-操作簡便
-*小調節時間
-無誤操作

●內置式調焦停止
-保護您的標本和物鏡

新功能：彩色編碼的光圈輔助                                                                彩色編碼的輔助設置確保了您的光圈設置始終正確

靈活
DM2500 M支持透射，反射光功能及它們的轉換，并可配有各種觀察方法，是一個靈活的顯微鏡系統。
1.4位反射光軸可以完成明場（BF）、暗場（DF)、微分干涉（DIC）及定量偏光（POL)、熒光（Fluo）功能，是工業質量控制和金相學檢查的理想解決方案。
2.5位反射光軸是特地為BF應用設計的，特別適用于制藥行業，如在金屬表面細胞生長分析。
3種物鏡轉換盤：BF/DF M32物鏡轉換盤，可容納5個物鏡，（BF/Fluo）物鏡轉換盤可以容納六至七個物鏡。

滿足各種應用
物鏡可以滿足面積達100×100mm的標本─如薄膜、晶片或印刷電路─以及厚度達80mm的標本。

終生受用
新載物臺整合了高科技超硬陶瓷材料，其硬度****。它是為繁重的工業應用需求而特別開發的，即節省時間又節省費用。

●支架具有靈活性
-2種反射光軸（4倍和5倍光軸）
-3位透鏡旋轉盤
-可選透射光應用

●對所有標本都靈活
-標本尺寸*大為100×100mm
-標本*高為80mm
-可使用所有顯微鏡的對比度方法
 

變形孿晶馬口鐵，200倍                                                                            過共析白口鐵，通用膠接托盤，
                                                                                                                      100倍偏振光，并有各種波長片設置
圖像來源：Pforzheim（普福爾茨海姆）學院、Ursula基督徒、Pforzheim（普福爾茨海姆）、機械系、德國

德國Leica進口顯微鏡DM2500 M金相顯微鏡的規格


Leica DM2500 M金相顯微鏡的尺寸

德國Leica進口顯微鏡顯微圖像系統
通過徠卡為材料分析設計的CCD（如Leica DFC280或DFC420）及圖像軟件，您可以獲得*快捷高質的工作結果。

快速**的圖像分析和處理
Leica QWin圖像處理和分析軟件提供了高質量的解決方案，特別是在大批量標本處理和自動操作環境中尤為如此。由于其模塊化設計，功能涵蓋了簡單、交互到自動測量，如：金屬表面分析和顆粒度分析（QClean）。

●CCD
-快速預覽生動圖像
-圖像分辨率范圍1.3至3.3兆象素-曝光時間100微秒至30秒
-12Bit色彩分辨
 
●圖像存檔/圖像分析
-從一個簡單的圖像存檔模塊到網絡解決方案（徠卡圖像管理系統）
-材料分析工作的日常工具（徠卡顯微系統有限公司材料工作站）
-材料分析工作的專家（Leica QWin）